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双变频抗干扰介质损耗测试仪

双变频抗干扰介质损耗测试仪

  • 发布日期:2020-8-20 16:43:36
  • 来源:http://www.hgycdq.com/product611472.html
  • 型号:
  • 规格:
  • 详细介绍

HY-7000A双变频抗干扰介质损耗测试仪用于现场抗干扰介损测量或试验室精密介损测量。仪器为一体化结构,内置介损电桥、变频电源、试验变压器和标准电容器等。采用变频抗干拢和傅立叶变换数字滤波技术,全自动智能化测量,强干扰下测量数据非常稳定。可同时测量CVT的C1、C2, 测量结果由大屏幕液晶显示,自带微型打印机可打印输出。

技术参数

准确度:Cx:± (读数x 1%+1pF ) tg5:± (读数x1%+0.00040 )

抗干扰指标:变频抗干扰,在200%干扰下仍能达到上述准确度

电容量范围:内施高压 3pF - 60000pF/10kV;60pF - 1 m F/0.5kV

外施高压 3pF-1.5u F/10kV;60pF ~ 30 p F/0.5kV

分辨率:高O.OOlpF, 4位有效数字

tgδ范围?不艰,分辨率0.001%,电容/电感/电阻三种试品自动识别。

试验电流范围:10pA~5A

内施高压:设定电压范围:0.5~10kV

至大输出电流:200mA

电压精度:±(1.5%x读数+10V)

电压分辨率:1V

试验频率:45、50、55、60、65Hz单频

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5HZ 自动双变频

频率精度:±0.01Hz

外施高压:正接线时至大试验电流1A,工频或变频40-70HZ

反接线时至大试验电流10kV/1A,工频或变频40-70HZ

CVT自激法低压输出:输出电压3~50V,输出电流3~30A

测试时间:约40s,与测量方式有关

输入电源:180V~270VAC,50HZ/60HZ±1%

计算机接口:标准RS232接口

环境温度:-10°C~50°C

相对湿度:<90%

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